日本英特斯intecs 超高輝度鹵素檢查燈 返回列表頁

1、工作原理

2、同系列全型號區分（UIH 全系三款）

• UIH-1C：小光斑超高亮款

  光斑范圍緊湊、中心亮度更高，聚焦極小區域精密查驗，多用于微型芯片、小尺寸光學元件單點瑕疵檢測，無延時冷卻結構，側重照度表現。

• UIH-2D：均衡通用主力款

  光斑尺寸與亮度做折中優化，支架升降可調，內置過熱斷電與關機延時風冷保護，兼顧中小尺寸工件批量巡檢，市面備貨量高、應用場景覆蓋面廣。

• UIH-3D：大工作面寬幅款

  照射光斑覆蓋面更大，適配大面積面板、整版晶圓整面巡檢，適合產線大批量全檢工位使用。

3、五大核心特點

1. 全光譜鹵素顯色：天然連續可見光波段，不會出現單色光源漏檢隱性色差缺陷，高反光鏡面、鍍膜零件檢測適配度高。

2. 無級全域調光：旋鈕連續調節輸出亮度，根據工件反光強弱靈活適配，規避強光眩光影響觀測，適配不同材質工件查驗。

3. 智能溫控防護：內置溫度傳感，腔體超溫自動斷電保護燈泡；關機后風扇持續散熱降溫，延長光源耗材使用壽命，可長時間連續開機作業。

4. 可拓展光纖導光：燈頭可外接導光光纖，深入狹小腔體、凹槽內部局部補光檢測，突破直射光源空間局限。

5. 立式可調支架：配套金屬升降立桿，燈頭高低、俯仰角度自由調整，靈活匹配不同厚度工件擺放高度，臺式落地均可安置。

4、核心參數

5、適用場景

1. 半導體領域：硅晶圓、掩膜玻璃、芯片封裝殼體、引線框架表面臟污、劃傷、缺料質檢；

2. 光電顯示行業：LCD 液晶面板、蓋板玻璃、光學鍍膜片瑕疵抽檢；

3. 光學元器件：精密鏡頭、棱鏡、濾光片、藍寶石基材內部氣泡、裂紋查驗；

4. 存儲制造：硬盤鋁制盤片、磁頭組件表面微痕、顆粒物檢測；

5. 精密加工：陶瓷基材、拋光模具、人造寶石內部雜質目視篩查。